ساخت میکروسکوپی جدید برای تصویربرداری دقیق از سطح در مقیاس نانو

به گزارش سایت قطره و به نقل ازگروه دانشگاه خبرگزاری دانشجو، شرکت بروکر (Bruker) از ارائه طیف سنجی مادون قرمز نانومقیاس Dimension IconIR and و سیستم تصویربرداری شیمیایی خود خبر داد.

- یک شرکت خارجی با ترکیب دو روش طیف سنجی و تصویربرداری اقدام به ساخت میکروسکوپی کرده است که می تواند از ویژگی های نانومقیاس سطح اطلاعات بسیار دقیقی ارائه کند.

به گزارش سایت قطره و به نقل ازگروه دانشگاه خبرگزاری دانشجو، شرکت بروکر (Bruker) از ارائه طیف سنجی مادون قرمز نانومقیاس Dimension IconIR and و سیستم تصویربرداری شیمیایی خود خبر داد.

این فناوری ترکیبی از Dimension Icon® AFM و فناوری AFM-IR فتوترمال nanoIR™ برای ایجاد استاندارد های جدید در نقشه برداری از ویژگی های مواد شیمیایی با وضوح تصویربرداری شیمیایی زیر 10 نانومتر است.

این پلتفرم جدید که شامل حالت PeakForce Tapping® منحصر به فرد بروکر است، کامل ترین راه حل میکروسکوپی مرتبط را برای کمی سنجی نانوشیمیایی، نانومکانیکی و نانوالکتریک ارائه می دهد.

در نهایت، IconIR انعطاف پذیری و کاربرد بیشتری را برای تحقق اهداف تحقیقاتی پیشگامانه در طیف وسیعی از کاربرد های حوزه پلیمر، زمین شناسی، نیمه هادی و علوم زیستی فراهم می کند.

الکساندر دازی، استاد دانشگاه پاریس-ساکلی، و مخترع روش AFM-IR می گوید: برای اولین بار، IconIR مرا قادر می سازد تا طیف سنجی nanoIR و وضوح تصویربرداری شیمیایی زیر 10 ن�